2024-12-07

即少数载流子寿命。光生电子和空穴从一开始在半导体中产生直到消失的时间称为寿命。载流子寿命就是指非平衡载流子的寿命。而非平衡载流子一般也就是非平衡少数载流子（因为只有少数载流子才能注入到半导体内部、并积累起来，多数载流子即使注入进去后也就通过库仑作用而很快地消失了），所以非平衡载流子寿命也就是指非平衡少数载流子寿命，即少数载流子寿命。半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数，导电中起到次要作用，则称它为少子。如：在N型半导体中，空穴是少数载流子，电...

2024-12-03

迁移率测试仪是一种专门用于测量材料（通常是聚合物、涂料、包装材料等）中迁移物质的迁移速率的设备。迁移物质是指在一定条件下从材料表面或内部迁移到环境中的化学物质，这些物质可能是有害的，或者影响材料的性能和使用安全。因此，迁移率测试在很多行业中都具有重要的应用，尤其是在食品包装、医疗设备、环保等领域。主要功能是评估不同物质在特定条件下（如温度、湿度、时间等）向外界迁移的速率，进而帮助评估材料的安全性、耐用性以及适用性。迁移率（MigrationRate）指的是单位时间内，从某一物...

2024-11-30

方块电阻测试仪在薄膜或薄层半导体材料中的应用方块电阻测试仪是一种用于测量半导体材料电阻率的仪器，通常用于涂层和薄膜半导体材料的电阻率测量。这种仪器能够测量样品的电导率和电阻率，以及材料的载流子浓度和迁移率等参数。在涂层和薄膜半导体材料中，方块电阻测试仪可以用于测量材料厚度、均匀性和电性能等特性。这些特性对于评估材料的质量和控制生产过程非常重要。此外，方块电阻测试仪还可以用于研究半导体材料中的界面反应和载流子输运机制等科学问题。非接触式测试方块电阻也是一个好的方法和选择。

2024-11-23

方块电阻又称膜电阻，是用于间接表征薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等样品上的真空镀膜的热红外性能的测量值，该数值大小可直接换算为热红外辐射率。方块电阻的大小与样品尺寸无关，其单位为Siements/sq，后增加欧姆/sq表征方式，该单位直接翻译为方块电阻或者面电阻，用于膜层测量又称为膜层电阻。方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形测量值都是一样的，不管边长是1米还是0.1米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜的厚度等因素有关，表征膜层致密性，同时表征对热红外光谱的透过能力，方块电阻...

2024-11-16

‌非接触霍尔迁移率‌是指通过非接触霍尔效应测量技术获得的迁移率值。霍尔迁移率（Hallmobility）是Hall系数RH与电导率σ的乘积，即μH=│RH│σ‌12。这种迁移率与传统的范德堡霍尔测试法相比，具有无损测量和分层测试等优点，能够更准确地测量载流子浓度和迁移率，特别是在复杂结构材料中‌3。测试方法非接触霍尔迁移率测试通常利用非接触霍尔测量技术，通过采集功率数据并进行数据处理，以获得载流子的迁移率和密度信息。这种方法可以消除不具物理意义的映像峰，提供更全面的载流子种类...

2024-11-15

CE认证，即只限于产品不危及人类、动物和货品的安全方面的基本安全要求，而不是一般质量要求，协调指令只规定主要要求，一般指令要求是标准的任务。因此准确的含义是：CE标志是安全合格标志而非质量合格标志。是构成欧洲指令核心的"主要要求"。[1]“CE”标志是一种安全认证标志，被视为制造商打开并进入欧洲市场的护照。CE代表欧洲统一（CONFORMITEEUROPEENNE）。在欧盟市场“CE”标志属强制性认证标志，不论是欧盟内部企业生产的产品，还是其他国家生产的产品，要想在欧盟市场上...